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ML307‑Y硬件设计规范(4)——可靠性、ESD、制程与机械

发表时间:2025/10/23 10:52:11 阅读量: 来源: 深圳市义嘉泰科技有限公司

ML307‑Y  工作环境极限、ESD 保护、湿敏与回流、工艺留边与可维护性


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本篇聚焦工程师在 ML307‑Y 量产中最容易忽略、但最影响稳定性的细节,提供一份可执行的 Checklist 与常见坑速查。



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环境与电气极限



• 工作温度:标准 −30~+75℃(扩展 −40~+85℃);存储 −45~+90℃。 • 电压极限:VBAT −0.3~5V;USB_VBUS −0.3~5.5V;数字输入 −0.3~2.3V。 • 功耗评估:不同 DRX/小区条件下休眠/待机电流差异明显;上行 23 dBm 脉冲电流需纳入功耗与热设计评估。

科技蓝系封面

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ESD 与器件防护



• 模块关键端口接触放电:VBAT/GND/天线口 ±4 kV;其它接口 ±0.5 kV。终端需加 TVS/ESD 阻断并做好接地与回流。


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制程与湿敏(MSL)



• 模组湿敏等级 MSL=4;车间寿命 72h(≤30℃/≤60%RH),超时需烘烤;参照 IPC/JEDEC J‑STD‑033。 • 钢网建议 0.15 mm;推荐二面贴装:先贴另一面回流,再贴模组;模组与周边器件 ≥3 mm 以利返修。


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测试点与可维护性



• 建议保留:USB(含 VBUS、DP/DM 串 0Ω)、BOOT_MODE、PWR_ON/OFF、DBG UART、VBAT/VDD_EXT。便于紧急下载、日志与供电隔离验证。


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量产 Checklist



  1. 版图:ESD/回流/返修空间预留;天线净空;地弹簧/屏蔽罩规划。
  2. 工艺:烘烤规范、炉温曲线、钢网开窗与锡膏粘度管理;SPI 点检与抽测制度。
  3. 验证:温循/高低温/跌落/ESD/盐雾(如需要)/振动按产品标准执行,抽样到位。

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常见坑



• 忽视湿敏与回流曲线 → 爆珠/空洞率高,返修难。 • 无测试点 → 现场问题无法快速复现与定位。

ML307‑Y 硬件设计手册(AT 版)


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